专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体装置以及其制造方法-CN201510071076.8有效
  • 铃木真理子;酒井忠司 - 株式会社东芝
  • 2015-02-11 - 2018-02-23 - H01L29/872
  • 一种半导体装置以及其制造方法,实施方式的半导体装置具备p型的第一金刚半导体层;表面被氧终止后的p型的第二金刚半导体层,配置于第一金刚半导体层上,且p型杂质浓度比第一金刚半导体层的p型杂质浓度低;表面被氧终止后的多个n型的第三金刚半导体层,配置于第二金刚半导体层上;以及第一电极,配置于第二金刚半导体层上以及第三金刚半导体层上,且与第二金刚半导体层形成第一接合,与第三金刚半导体层形成第二接合
  • 半导体装置及其制造方法
  • [发明专利]多晶金刚自立基板的制造方法-CN201980084289.0在审
  • 古贺祥泰 - 胜高股份有限公司
  • 2019-10-10 - 2021-10-22 - C30B29/04
  • 本发明提供一种能够制造层叠有高品质的化合物半导体层的多晶金刚自立基板的多晶金刚自立基板的制造方法。将含有金刚粒子的溶液涂布于化合物半导体基板(10)上,然后,对化合物半导体基板(10)实施热处理,由此使金刚粒子(14)附着于化合物半导体基板(10)上。以金刚粒子(14)为核心,通过化学气相沉积法,在化合物半导体基板(10)上使厚度为100μm以上的多晶金刚层(16)生长。然后,对化合物半导体基板(10)进行减厚而形成化合物半导体层(18)。经这些工序,获得多晶金刚层(16)作为化合物半导体层(18)的支撑基板而发挥作用的多晶金刚自立基板(100)。
  • 多晶金刚石自立制造方法
  • [发明专利]一种半导体器件及其制造方法-CN202080102849.3在审
  • 胡彬;段焕涛 - 华为技术有限公司
  • 2020-10-30 - 2023-03-17 - H01L29/778
  • 本申请实施例公开了一种半导体器件及其制造方法,半导体器件可以包括衬底,以及位于衬底上的外延层和电极,其中衬底中具有纵向贯穿衬底的金刚结构,金刚结构在纵向上可以分为第一金刚部分和第一金刚部分下方的第二金刚部分,第一金刚部分和第二金刚部分的横向尺寸不同,由于金刚结构的导热性能好,贯穿衬底的金刚结构可以构成纵向的导热通道,提高半导体器件的散热性能,利于半导体器件的高功率性能的有效发挥。此外,第一金刚部分和第二金刚部分的横向尺寸不同,则利于控制第一金刚部分和第二金刚部分的结构,同时可以兼顾散热性能和外延层之间的晶格匹配,利于得到更高质量的外延层,利于得到高性能的半导体器件。
  • 一种半导体器件及其制造方法
  • [发明专利]一种共掺杂金刚及制备方法与半导体材料、装置-CN201910879808.4有效
  • 彭建国;陈宏伟;彭伟华;孔智超 - 北京阿尔玛斯科技有限公司
  • 2019-09-17 - 2022-04-19 - C23C16/27
  • 本申请实施例提供一种共掺杂金刚及制备方法与半导体材料、装置,涉及半导体材料领域。共掺杂金刚的晶格结构包括多个碳原子、一个硼原子、多个硫原子以及多个空位,其不大于0.17%的供体原子提供0.25~0.27eV电离能量的传导电子。共掺杂金刚的制备方法主要是将金刚衬底置于热丝反应室中,往热丝反应室内通入氢气至气压达35托以上;将热丝加热至2000~2400℃,金刚衬底加热至650~1000℃;往热丝反应室内通入含有碳源和硼硫掺杂剂的氢气,在金刚衬底的晶面上沉积形成硼硫共掺杂金刚。共掺杂金刚及制备方法与半导体材料、装置能够得到优质的n型半导体材料,满足金刚半导体器件的性能需求。
  • 一种掺杂金刚石制备方法半导体材料装置
  • [发明专利]一种电化学刻蚀金刚半导体薄膜的方法-CN202110437505.4有效
  • 时康;冯康康 - 厦门大学
  • 2021-04-22 - 2022-04-08 - C25F3/12
  • 本发明属于半导体制造技术领域,具体公开了一种电化学刻蚀金刚半导体薄膜的方法。本发明通过将金刚半导体薄膜浸入电解液中作为电解池的阴极,另采用惰性电极作为电化学电解池的阳极,在阴阳两极间施加电压15~50V的直流电,在常温常压条件下电解金刚半导体薄膜,对金刚薄膜表面进行刻蚀,实现对金刚半导体薄膜的减材加工。本发明从减材加工原理上创新,提出了一种只需采用简单的设备在常温常压下仅一步就可刻蚀金刚半导体薄膜的新方法,具有较大的经济意义和推广价值。
  • 一种电化学刻蚀金刚石半导体薄膜方法
  • [发明专利]金刚半导体系统及方法-CN202111546963.8在审
  • 亚当·卡恩 - 阿克汗技术有限公司
  • 2012-07-20 - 2022-04-29 - H01L29/16
  • 本申请涉及金刚半导体系统及方法。在此披露了一种用于制造金刚半导体的新型且改良的系统以及方法。该系统可包括具有n型供体原子(306)和金刚晶格(304)的一种金刚材料(200),其中在100kPa和300K,这些供体原子(306)的0.16%将迁移率大于770cm2/Vs的传导电子提供至该金刚晶格制造金刚半导体的方法(100)可包括以下步骤:选择一种具有金刚晶格(304)的金刚材料(200);将最小量受体掺杂原子引入至该金刚晶格(304)中,以建立离子轨道;将置换掺杂原子通过这些离子轨道引入至该金刚晶格(304)中;并且退火该金刚晶格(304)。
  • 金刚石半导体系统方法
  • [发明专利]多晶金刚自立基板及其制造方法-CN201980086235.8在审
  • 古贺祥泰 - 胜高股份有限公司
  • 2019-09-25 - 2021-10-26 - H01L21/02
  • 本发明提供一种制造层叠有高品质的化合物半导体层的多晶金刚自立基板的方法。以附着于单晶硅基板(10)上的金刚粒子(14)为核心,通过化学气相沉积法,在单晶硅基板(10)上使厚度为100μm以上的多晶金刚层(16)生长。此时,将多晶金刚层的表面(16A)上的晶粒的最大粒径除以多晶金刚层(16)的厚度的值设为0.20以下。然后,对多晶金刚层的表面(16A)进行平坦化。然后,通过真空常温接合法或等离子体接合法,在多晶金刚层(16)上贴合化合物半导体基板(20)。然后,对化合物半导体基板(20)进行减厚而形成化合物半导体层(22)。去除单晶硅基板(10)。如此,获得多晶金刚层(16)作为化合物半导体层(22)的支撑基板而发挥作用的多晶金刚自立基板(100)。
  • 多晶金刚石自立及其制造方法

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